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上海正衡電子科技有限公司
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1MHz~1.3GHz阻抗分析儀IM7585主要參數：測量頻率 1 MHz～1.3 GHz測量范圍 L：0.0123 nH～0.795 mH C： 0.0245 pF～1.59 ?F (根據測量頻率而定)測量信號電平 -40.0 dBm～+1.0 dBm基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°
1MHz~1.3GHz阻抗分析儀IM7585主要參數：
測量頻率 1 MHz～1.3 GHz
測量范圍 L：0.0123 nH～0.795 mH
C： 0.0245 pF～1.59 ?F
1MHz~1.3GHz阻抗分析儀IM7585特點：
2種模式測量：LCR模式，分析模式
LCR模式：可將任意頻率和電平信號施加到需要測量的元件上進行測量。適用于電容器，線圈等被動元件的評估。
比較測量 以1個判定標準為基礎對元件的合格與否進行判斷。
BIN測量使用多個判斷標準對元件進行劃分。
Display顯示
檢測功能
分析模式：對測量頻率，測量信號電平進行掃描的同時進行測量。適用于頻率特性或電平特性的確認。
普通/分段掃描 通過掃描頻率、電平來觀察元件的特性
間隔掃描 固定測試條件下觀察元器件在時間變化過程中的特性
多種顯示功能
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