OmniScan X3

相控陣探傷儀

信心滿滿，昭然可見

重新打造的OmniScan

如今相控陣檢測團隊中的主力成員更加出色！OmniScan 探傷儀曾經(jīng)憑借其結果可靠、圖像清晰、使用方便等特性脫穎而出，成為范圍內便攜式相控陣領域中的性儀器，如今這款儀器又新添了諸如全聚焦方式（TFM）圖像等一些強大的功能，從而可使用戶更加信心十足地完成檢測工作。

如果您以前使用過OmniScan儀器，那么您會對 OmniScanX3探傷儀有一種非常熟悉的感覺：依然保留 了高度便攜的特性和適用于工業(yè)環(huán)境的堅固外殼，不過其 用戶界面更為簡潔明快、更具現(xiàn)代感。如果您從來沒有用過這種儀器，您會很快發(fā)現(xiàn)OmniScan為什么可以成為備受世界各地檢測人員歡迎和信賴的性儀器。

基本特性

• 機載TOFD（衍射時差）功能

• 2個UT通道

• 通過墜落測試，符合IP65評級標準

• 8組聲束設置

• 與現(xiàn)有的奧林巴斯掃查器和探頭相兼容

• 16:128PR配置或32:128PR配置

• 符合ISO 18563?1:2015和EN12668?1:2010

可提升效率的創(chuàng)新特性

• 通過全矩陣捕獲（FMC）功能可以采集到全聚焦方法（TFM）圖像（可支持64個晶片的孔徑）

• 4 GB的大文件容量，64 GB的內存

• 精心設計的軟件，大大減少了按鍵的次數(shù)

• 在單一工作流程中創(chuàng)建整個掃查計劃

• 通過“單掃”方式，快速采集校準的包絡線

• 1024個聚焦法則

立即投入工作

綜合性機載掃查計劃工具功能，一經(jīng)啟用，就可以幫助用戶在檢測開始之前觀察到檢測的圖像。如果用戶在掃查計劃 中遺漏了某些信息，這些可視化工具便會提前發(fā)現(xiàn)這種失誤，從而可以降低出錯的風險。用戶可以在一個簡單的工作流程中，創(chuàng)建包含全聚焦方式（TFM）區(qū)域在內的整個掃查計劃。得到了改進的校準和設置驗證工具可以使用戶快速完成檢測設置的創(chuàng)建工作，并盡快投入到檢測工作中。

更快完成設置工作

• 可以一次性配置多個探頭/組

• 在儀器上創(chuàng)建雙晶線性、矩陣和雙矩陣列的設置

• 自動楔塊驗證
  

• 單掃校準
  

• 使用同時多點時間校正增益（TCG）進行數(shù)據(jù)采集

• 對保存的設置進行簡化的校準驗證 過程

質量更好的圖像可以使用戶更有信心地判讀缺陷指示信號

更清晰的相控陣圖像有助于用戶更自信地對信號指示進行 判讀。通過使用全聚焦方式（TFM）功能，用戶可以獲得 工件整個體積各個部分的更清晰的圖像，并將這些圖像融 合在一起生成正確反映了工件幾何形狀的圖像，這樣就可 使用戶對使用常規(guī)相控陣技術獲得的缺陷特性進行驗證。 可以最多使用64個激活晶片進行全矩陣捕獲操作，以在很 大程度上增加全聚焦方式（TFM）的覆蓋區(qū)域，并優(yōu)化檢 測的分辨率。

其它一些功能，包括16比特A掃描、插值和平滑，可以提 高相控陣成像的質量，從而可以更有效地完成缺陷掃查 工作。

檢測工具，儀器提供

? 快速訪問所需的功能，即使在檢測過程中，也能做到這點

? 高效的菜單結構，意味著無需多次按動按鈕，即可以完成 檢測

? 兼具高性能和多功能：在需要時，可以使用高級模式訪問專 家級別的功能

? 使用奧林巴斯科學云系統(tǒng)（OSC），以無線方式發(fā)送數(shù)據(jù)， 或與檢測現(xiàn)場以外的同事分享屏幕

? 支持雙晶線性/雙晶矩陣陣列探頭、動態(tài)深度聚焦、自動光 標定位以及更多其它功能

? 4 GB機載文件容量可以幫助用戶在無需分段掃查或卸載數(shù) 據(jù)的情況下掃查較大的部件

? 使用內置GPS功能可以對獲得檢測結果的地點進行跟蹤

更快地進行分析，更快地獲得結果

對相控陣數(shù)據(jù)進行分析所花費的時間可能會比檢測所用的時間更長。OmniScan X3探傷儀為用戶提供了一些靈活好用 的工具。有了這些工具，用戶無論使用儀器還是PC機，都可以對數(shù)據(jù)進行更快的分析。通過使用改進的缺陷報表和更多的導出選項，如：SD卡、USB存儲器和云系統(tǒng)，用戶可以非常簡便地與其他人交流包含掃查計劃和缺陷定量在內的全面性的檢測結果。

數(shù)據(jù)解讀工具

? 焊縫閘門可以降低來自不規(guī)則幾何形狀的回波的影響

? 體積頂視圖和體積側視圖可以融合在一起，并修正幾何形狀 方面的數(shù)據(jù)，以突出顯示缺陷

? 自動光標定位功能可以標出從指示信號的峰值波幅下降了?6 dB的點的位置，節(jié)省了定位光標的時間

? 可以將第三方程序連接到奧林巴斯科學云系統(tǒng)，因此用戶可 以使用自己喜歡的分析程序訪問檢測數(shù)據(jù)

檢測團隊中的主力成員

OmniScan X3探傷儀具有強大的檢測性能和很高的靈活性，可以迎接相控陣檢測提出的挑戰(zhàn)。無論您正在檢測的是焊 縫、管道、壓力容器，還是復合材料，OmniScan X3儀器都可以為您提供適用的功能，幫助您有效地完成檢測工作， 并充滿信心地解讀缺陷數(shù)據(jù)。

焊縫

• 通過多組聲束設置視圖，核查是否可以正確覆蓋焊縫區(qū)域

• 波幅范圍可被擴展到800 %，因此用戶無需再次掃查部件， 就可以對飽和的指示信號進行表征，如：未熔合的指示信 號。

• 支持多探頭配置和不同的觸發(fā)方案，從而可以更好地覆蓋每 個焊縫區(qū)域

• 焊縫閘門可以突出顯示需要關注的區(qū)域

腐蝕

• 很高的采集速度，可以更方便地檢測較大的管道或容器

• 4 GB單個文件容量，可以減少中斷操作的次數(shù)，并采集到 更多的數(shù)據(jù)

• 與所有奧林巴斯腐蝕掃查器相兼容

• 支持雙晶線性陣列探頭，從而可獲得改進的近表面分辨率

復合材料

• 高波幅范圍（800 %）和16比特數(shù)字轉換器可以在檢測衰減 性較強的材料時，獲得更寬泛的動態(tài)檢測范圍

• TCG動態(tài)范圍可達65 dB，且提供經(jīng)過改進的TCG表格視 圖，以對各個點進行手動編輯

• 12 kHz的掃查速度，可以在較大的掃查區(qū)域中快速采集數(shù)據(jù)

• 對很寬的脈沖寬度進行控制，以優(yōu)化對低頻探頭的使用

性能可靠，令人信賴

如果您在室外對您的資產(chǎn)進行檢測， 檢測工具可能會被淋濕，會升溫，甚 至會掉落。這就是我們?yōu)槭裁磿裢?注重OmniScan X3探傷儀堅固耐用 性能的原因，而且我們的OmniScan X3已經(jīng)通過了嚴格的耐用性測試。這 款儀器符合IP65防塵、防水的評級要 求，通過了從4英尺高處墜落的測試。 在您準備好進行檢測時，這款儀器可 以立即投入工作。10.6英寸WXGA大 顯示屏在大多數(shù)光線條件下可以提供 清晰可見的圖像，同時操作人員還可 進行簡潔的觸摸屏操作，即使在帶著 手套，施用了耦合劑，或其它較為困 難的條件下，也可以如此。在高溫環(huán) 境中，可以使用更換方便的冷卻風扇 使工作溫度保持在?10 °C到45 °C 的范圍內，而且還不會降低儀器符合 IP65評級標準的性能。

感受云系統(tǒng)的強大性能

• 可以將數(shù)據(jù)連接到奧林巴斯科學云系 統(tǒng)的無線連通性能，可使用戶更有效 地進行協(xié)同合作，并對相控陣數(shù)據(jù)進 行無縫管理工作。

• 與同事分享儀器屏幕，獲得指導建議 或不同的意見

• 將數(shù)據(jù)上載到云系統(tǒng)，以從任何地點 對數(shù)據(jù)進行訪問

• 在云系統(tǒng)中保存檢測設置文件，以在 需要時訪問這些文件，或將這些文件 通過奧林巴斯科學云系統(tǒng)的集線器部 署到相關的項目中

• 訪問云系統(tǒng)中的校準認證文件

• 無線固件更新有助于確保用戶獲得的軟件和功能

技術規(guī)格