系統(tǒng)簡介

光學(xué)輪廓儀是用于3D形貌定量測試，表面粗糙度檢測的理想非接觸式檢測工具。 可以測量各種材料的面形，提供各種參數(shù)，包括表面結(jié)構(gòu)，面形和臺(tái)階高度等等的2D和3D 圖形。與探針式接觸式輪廓儀相比，由于采用非接觸式的測量系統(tǒng)，沒有耗材，不會(huì)引起待測件的損傷。

IMOS nanoprofilometer光學(xué)表面輪廓儀設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，具有兩種測量模式，可定量測量微米尺度和納米尺度表面形貌輪廓。具有測量速度快，測量精度高，性價(jià)比高的特點(diǎn)。

系統(tǒng)特點(diǎn)

測量各種材料的面形，包括平坦度，粗糙度，面形和臺(tái)階高度等

測量精度高，Z方向精度可打30pm

測量速度快，幾秒鐘內(nèi)可捕捉超過兩百萬數(shù)據(jù)點(diǎn)。

與同類產(chǎn)品相比較（包括探針式接觸式輪廓儀）具有高性價(jià)比，

結(jié)構(gòu)緊湊，抗振隔振。

非接觸式的測量系統(tǒng)，沒有耗材，不會(huì)引起待測件的損傷。

操作簡便，易于維護(hù)

支持大面積拼接測量

系統(tǒng)參數(shù)

測試實(shí)例