二次離子飛行時間質譜
是Kore公司集多年研發經驗生產出*的儀器，*次將材料表面分析技術引入到可負擔得起的日常常規分析范圍中。可在短的分析時間內生成化學圖像，突破常規實驗室儀器的極限!
SurfaceSeer分析儀采用功能強大的二次離子質譜SIMS技術，結構緊湊，僅需一個標準電源，可放置于任何場所使用。SurfaceSeer應用廣泛，是一臺高性價比的實驗室型材料表面分析儀器。SurfaceSeer相對較低的維護成本和較高的樣品分析速度，保證其單個樣品分析成本明顯低于商業實驗室的SIMS。SurfaceSeer是研究人員負擔得起的、具有表面成像功能 (可選深度剖析) 的儀器。
TOF-SIMS
二次離子質譜儀 (SIMS) 是材料表面分析重要的技術之一，SIMS可以揭示表面及近表面原子層的化學組成。所獲取的信息遠超過簡單的元素分析，可以識別有機組分的分子結構。
TOF-SIMS 的關鍵功能是原位無損分析表面區域 (靜態SIMS)。TOF-SIMS使用掃描脈沖聚焦探頭束（成像SIMS）建立無損表面的化學成像。使用其它離子束逐步刻蝕表面，對表面作深度剖析（動態SIMS）。只需極少的樣品前處理，極短的時間內就可獲得高靈敏度的分析結果 。
二次離子飛行時間質譜特點
單層表面信息
檢測所有元素
識別有機物
高靈敏度分析
快速化學成像
薄膜深度剖析
設計緊湊
經濟適用，友好的用戶界面
SurfaceSeer擁有功能強大的樣品處理裝置提供各種樣品支架，可裝載不同厚度和直徑的樣品。
SurfaceSeer檢測未知樣品如同檢測已知樣品那樣簡單，對未知樣品具有*的分析性能, 可研究微小區域的表面，并可提取更多的有機樣品信息。
SurfaceSeer質譜儀可同時分析所有元素及有機物，可消除有機物和元素干擾，使譜圖更清晰，檢測限更低，能更有效地分析材料樣品。
SurfaceSeer所有儲存的數據都能用于溯源性分析。數據處理軟件允許分析數據和樣品的化學構成信息進行全面的交互提取。SIMS擁有的常見材料譜庫可幫助識別未知物。
SurfaceSeer應用領域:
表面涂層與處理
電子元件
半導體
電極與傳感器
潤滑劑
催化劑
粘合劑
薄膜
包裝材料
腐蝕研究
大學教學與科研
