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JMS-S3000螺旋飛行質譜儀

JMS-S3000螺旋飛行質譜儀
為增強解析度讓飛行距離變的更長Spiral TOF 使用螺旋式設計, 在較小的空間下可以達到長飛行距離, 從而可以分析到更高解析度, 分子量準確度也更高
TOF-TOF(選配)-也可以加強解析度及準確度選擇二次串聯螺旋飛行質譜TOF-TOF做結構分析雙重質譜MS/MS
Linear TOF(選配)-可以做更高分子量如蛋白質
螺旋飛行質譜儀使用特殊離子化方式MALDI 基質輔助雷射脫附法(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization)
Spiral TOF-TOF特點
1.高分子量, 高解度, 高準確度
2.高jing準選擇離子單一同位素分析
?長距離飛行解析度非常高
?由離子源到離子閘門距離15~17公尺
PSD
3.消除PSD衍生離子
4.高能量碰撞誘導解離-20 keV 實驗室瞬間碰撞能量HE-CID分離高活化能鍵結, 自然單一碰撞重復性高
5. 一次觀察所有離子
6. 可以測到 m/z幾乎大分子物質都可用Spiral Mass
500,000,
?Linear TOF
離子源與檢測器之間有 1.2 m是自由空間
適合高分子量物質如蛋白質或高分子
所有離子從加速後都被偵測
可以測到 m/z 500,000
幾乎大分子物質都可用Spiral Mass
解析度
60,000 (ACTH fragment 1-17?M+H?+: m/z 2093.1)
質量解析度
(internal reference)
1 ppm (average error)
質量準確度
(external reference)
10 ppm (average error)
靈敏度
500 amol, S/N > 50
with standard stainless steel plate
雷射
Wavelength 349 nm (maximum 250 Hz)
應用域
蛋白質
高分子合成